EMC 預(yù)測(cè)試技術(shù)是保證產(chǎn)品質(zhì)量不可少的手段?。ǘ?/h1>

日期：2024-09-19 14:44

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摘要： ⑵ 普通環(huán)境下的電磁預(yù)兼容測(cè)試 在被測(cè)設(shè)備(EUT)的前方一定距離(d)處放置**線(xiàn)并連接到通道A，負(fù)責(zé)接收來(lái)自EUT以及背景共同作用的信號(hào)。另外一個(gè)天線(xiàn)則放置在離EUT較遠(yuǎn)的地方，其距離至少是d的十倍，并連接到通道B，負(fù)責(zé)測(cè)量來(lái)自整個(gè)背景的噪聲情況。 同步的雙通道EMI接收機(jī)，可以保證背景信號(hào)能同時(shí)被接收機(jī)的兩個(gè)通道分別收到。從而可以將收到的共同具有的背景噪聲記錄下來(lái)并濾除掉，這就創(chuàng)建了一個(gè)虛擬的第三個(gè)測(cè)量通道，這種測(cè)量方法可以很真實(shí)地反映被測(cè)設(shè)備的電磁輻射情況。 系統(tǒng)在“消除”背景噪聲方...

 ⑵ 普通環(huán)境下的電磁預(yù)兼容測(cè)試
         在被測(cè)設(shè)備(EUT)的前方一定距離(d)處放置**線(xiàn)并連接到通道A，負(fù)責(zé)接收來(lái)自EUT以及背景共同作用的信號(hào)。另外一個(gè)天線(xiàn)則放置在離EUT較遠(yuǎn)的地方，其距離至少是d的十倍，并連接到通道B，負(fù)責(zé)測(cè)量來(lái)自整個(gè)背景的噪聲情況。

同步的雙通道EMI接收機(jī)，可以保證背景信號(hào)能同時(shí)被接收機(jī)的兩個(gè)通道分別收到。從而可以將收到的共同具有的背景噪聲記錄下來(lái)并濾除掉，這就創(chuàng)建了一個(gè)虛擬的第三個(gè)測(cè)量通道，這種測(cè)量方法可以很真實(shí)地反映被測(cè)設(shè)備的電磁輻射情況。

 系統(tǒng)在“消除”背景噪聲方面．采用了“時(shí)間/頻率/相位”同步識(shí)別技術(shù)，通過(guò)相位識(shí)別，把背景噪聲用傅立葉計(jì)算方法剔除掉，并能提取被調(diào)制的EUT的信號(hào)，也能提取與背景噪聲頻率一致的EUT信號(hào)，見(jiàn)圖4(b)所示。

這種測(cè)試方法允許背景噪聲是不穩(wěn)定的，如果背景噪聲在測(cè)試場(chǎng)地是“均勻”的，則測(cè)試結(jié)果能與標(biāo)準(zhǔn)EMC場(chǎng)地的測(cè)試結(jié)果保持基本一致。而在實(shí)際測(cè)試中，“背景噪聲均勻”的環(huán)境是很容易找到的。
 ⑶ 定位輻射源的測(cè)試
        相同頻率的兩個(gè)信號(hào)，未必來(lái)自同一信號(hào)源。在定位輻射源的測(cè)試中，通道A接到一個(gè)放在EUT附近的遠(yuǎn)場(chǎng)天線(xiàn)或者電流卡鉗，探測(cè)EUT產(chǎn)生的電磁干擾，通道B連接一個(gè)近場(chǎng)探頭。移動(dòng)通道B的探頭，通過(guò)兩個(gè)信號(hào)的相關(guān)性來(lái)確定輻射源的位置。這就意味著即使不同的幾個(gè)發(fā)射器發(fā)出同樣頻率和幅度的信號(hào)，系統(tǒng)也可以加以區(qū)分，從而準(zhǔn)確定位干擾源。
 該系統(tǒng)由于能通過(guò)“時(shí)間/頻率/相位”來(lái)識(shí)別兩個(gè)天線(xiàn)接收到信號(hào)的相關(guān)性，所以在EMI定位方面，它能找到真正使遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試不合格的干擾源位置。找干擾源的時(shí)候，一個(gè)顯示窗口上同時(shí)顯示遠(yuǎn)場(chǎng)數(shù)據(jù)(天線(xiàn)收到的信號(hào))和近場(chǎng)數(shù)據(jù)(探頭收到的信號(hào))，能在產(chǎn)生相同頻率的多個(gè)位置中找出與遠(yuǎn)場(chǎng)信號(hào)相關(guān)聯(lián)的位置，可以節(jié)約大量的時(shí)間，能應(yīng)用于從板級(jí)設(shè)計(jì)一直到系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)。

5、EMC診斷實(shí)施舉例
5.1 借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問(wèn)題
         在通過(guò)EMC預(yù)測(cè)量發(fā)現(xiàn)設(shè)備(或分系統(tǒng))的EMC問(wèn)題后，可以借助一些診斷工具進(jìn)一步定位EMC問(wèn)題。這有助于測(cè)試(設(shè)計(jì))工程師有針對(duì)性的提出EMC對(duì)策，順利解決已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的EMC問(wèn)題。以下介紹當(dāng)前使用比較普遍的84105EM診斷系統(tǒng)。
         其系統(tǒng)功能為用于表面電流、插槽、電纜和集成電路的磁場(chǎng)輻射測(cè)量。其系統(tǒng)組成是由三EMC分析儀、近場(chǎng)探頭和前置預(yù)放三部分組成。系統(tǒng)特點(diǎn)：對(duì)環(huán)境沒(méi)有特別要求(不需要屏蔽室或暗室)，可測(cè)頻段寬，測(cè)量精度高，只配置了磁場(chǎng)探頭，操作簡(jiǎn)單、價(jià)格較低。
   
5.2、簡(jiǎn)述電磁故障診斷84105EM故障診斷系統(tǒng)診斷內(nèi)容與測(cè)量配置。
  ⑴ 診斷目的
        針對(duì)已經(jīng)檢測(cè)出的EMI不合格頻率點(diǎn)，采用近場(chǎng)檢測(cè)的方法進(jìn)一步定位干擾發(fā)生點(diǎn)；針對(duì)已經(jīng)檢測(cè)出的EMS不合格頻率點(diǎn)，進(jìn)一步定位敏感度薄弱部位。
  ⑵ 診斷工具
       采用安捷倫84105EM電磁兼容診斷系統(tǒng)，該系統(tǒng)由EMC分析儀E7401A(含選件跟蹤發(fā)生器前置放大器11909A)和近場(chǎng)探頭套(含11941A和11940A近場(chǎng)探頭)組成，參見(jiàn)圖5(a)。

         近場(chǎng)探頭套所包含的探頭11941A的測(cè)量頻段為9kHz-30MHz，11940A的測(cè)量頻段為30MHz～1MHz，它們都采用雙環(huán)設(shè)計(jì)。探頭的兩個(gè)環(huán)天線(xiàn)在平衡/不平衡變換器(簡(jiǎn)稱(chēng)“巴侖”)合并變?yōu)椴黄胶廨敵?同軸線(xiàn)采用雙環(huán)可使它們的電場(chǎng)感應(yīng)電壓分量反相，相互抵消，只保留磁場(chǎng)感應(yīng)電壓分量)。理論分析明在近場(chǎng)探測(cè)情況下，電場(chǎng)探頭(如單極或偶極振子)不可避免或容性耦合周?chē)碾s散信號(hào)，難實(shí)現(xiàn)可重復(fù)的測(cè)量，而環(huán)天線(xiàn)的磁場(chǎng)探頭有很好的測(cè)量可重復(fù)性，并可抑制感應(yīng)的電場(chǎng)，所以本系統(tǒng)采用這種雙環(huán)結(jié)構(gòu)的磁場(chǎng)探頭。

為了進(jìn)行敏感度測(cè)量，可采用E7402A分析儀配置的選件跟蹤發(fā)生器(1DS)，內(nèi)置在EHC分析儀中。由于跟蹤發(fā)生器與測(cè)量接收機(jī)做成一體，兩者的頻率保持同步，這比采用單獨(dú)的掃捅要方便得多，尤其在濾波器傳輸特性的測(cè)量中可大大縮短測(cè)量時(shí)間。
        每個(gè)近場(chǎng)探頭均用網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)，每個(gè)探頭在其頻段的5個(gè)頻率點(diǎn)測(cè)校正系數(shù)(dB(uA/m)/uV)，將接收機(jī)讀數(shù)(dB uv)加上此校正系數(shù)就得出所測(cè)的磁磁場(chǎng)強(qiáng)度(dB(uA/m))。兩個(gè)近場(chǎng)探頭的校正系數(shù)已存儲(chǔ)在EMC分析儀的ROM中。
  ⑶ 診斷內(nèi)容
         尋找PCB板的“熱點(diǎn)”(即電磁輻射過(guò)強(qiáng)的部位)，記錄其頻率及幅值；尋找PCB的“敏感度空洞”(即電磁敏感度薄弱部位)，記錄其頻率及幅值；尋找屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位。圖5(b)為診斷屏蔽殼體上不應(yīng)有的孔隙部位的測(cè)量配置示意圖。

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